產(chǎn)品簡(jiǎn)介

電子元器件高溫老化房是針對高性能電子產(chǎn)品計算機整機，顯示器，終端機，車(chē)用電子產(chǎn)品，電源供應器，主機板、監視器、交換式充電器等）仿真出一種高溫惡劣環(huán)境測試的設備。

電子元器件高溫老化房是針對高性能電子產(chǎn)品仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測試的設備，是提高產(chǎn)品穩定性、可靠性的重要實(shí)驗設備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競爭性的重要生產(chǎn)流程，該設備廣泛應用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥、化工等行業(yè)。

◆BY-260LF——房體尺寸按照客戶(hù)要求制作，一般從1立方起~200立方不等可以設計制作

溫度范圍：RT~80℃

均勻度：≤2.0℃或3.0℃

溫度均勻度要求：老化房的溫度一般40度的時(shí)候±1℃，50的時(shí)候±3℃，60℃
以上為±5℃，如果60℃以上均勻度要求過(guò)高的話(huà)可以采用PLC實(shí)行多點(diǎn)控制或是以子母機的方式來(lái)控制。

控制精度：±2.0℃

升溫時(shí)間：每分鐘約3.0℃

電源：AC380V±10%，50Hz

加熱器：鰭片式散熱管型鎳鉻合金電熱式加熱器

循環(huán)風(fēng)機：不銹鋼加長(cháng)軸心+不銹鋼多翼式扇葉（篩網(wǎng)式出風(fēng)，頂部均勻出風(fēng)，右邊回風(fēng)）

整體采用拼裝形式，各組件運輸到用戶(hù)現場(chǎng)后進(jìn)行總裝，并通電進(jìn)行綜合調試。

箱體庫板：主箱體采用高強度巖棉保溫層標準庫板[厚度75mm]拼接，中間隔熱材料：耐高溫阻燃巖棉隔熱，質(zhì)輕耐抗擊，隔熱性能佳；

排氣孔：試驗室的頂部左右或前后開(kāi)有對開(kāi)的排氣孔，裝有軸流風(fēng)機，當試驗室發(fā)生超溫情況時(shí)會(huì )自動(dòng)打開(kāi)換氣，防止出現超溫損壞及室內氣壓變化造成箱體變形；

箱體大門(mén)：?jiǎn)伍_(kāi)式大門(mén)，尺寸為寬90×高180 cm；大門(mén)拉手為內外開(kāi)啟式，門(mén)縫處裝有特別設計加工的雙道柔軟的硅橡膠密封帶。

觀(guān)察窗：在試驗室門(mén)上開(kāi)內嵌大型鋼化玻璃透視窗1塊（400*500），試驗室兩側安裝觀(guān)察窗各兩個(gè)（400*500），方便觀(guān)察實(shí)驗室內老化情況。

觀(guān)察燈：室內頂部裝防潮防爆的觀(guān)察燈2只，方便觀(guān)察內部試驗情況。

控制柜：放在箱體的右側，操作順勢方便、美觀(guān)大方，表面靜電噴塑處理；控制柜內的

所有電線(xiàn)均有序號和編號，線(xiàn)路清楚，一目了然。

電子元器件高溫老化房控制系統：

1.控制器：彩色LCD顯示器，觸摸屏方式輸入，可保存試驗的設定值、采樣值及采樣時(shí)刻的時(shí)間；控制器可同時(shí)顯示和記錄設定溫度和實(shí)測溫度的試驗曲線(xiàn)

2.485USB接口: 配優(yōu)盤(pán)，試驗程序及試驗數據可通過(guò)優(yōu)盤(pán)轉存，再用PC機進(jìn)行分析和管理。

3.測試孔：直徑φ100mm 2個(gè)

4.運行方法：定值

5.控制器具有多組PID參數，可將整個(gè)溫度范圍和濕度范圍分為多組PID進(jìn)行控制，在設備的溫度控制范圍內可獲得*的控制效果，而不必對每個(gè)溫度控制點(diǎn)進(jìn)行自整定或手動(dòng)PID參數調整。

6.控制系統采用固態(tài)繼電器過(guò)零觸發(fā)，以降低噪音，減少污染，方便維修，提高控制精度。

7.在系統中除了主控制器外，還設置一獨立的超溫保護器，即使主控制器出現故障，超溫保護器也能可靠的斷開(kāi)加熱電源以保護設備和試品的安全。

8.故障報警功能、自診斷功能、故障處理提示功能、試驗定時(shí)運行停止功能、箱體門(mén)開(kāi)門(mén)提示報警

9.設備保護功能：可調式的超溫保護，總電源 相序和缺相保護、斷電保護功能，漏電保護，過(guò)載短路保護，總電源電壓上、下限報警等功能

北京普桑達定制的步入式老化試驗室根據客戶(hù)要求設計，進(jìn)出門(mén)采用保溫推拉門(mén)或雙開(kāi)保溫門(mén)，另根據需要可設置觀(guān)察窗，方便在室外觀(guān)察到室內產(chǎn)品測試情況。如需電源提供則在方便操作的位置安裝電源插座，以滿(mǎn)足產(chǎn)品老化測試時(shí)的需要。